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Temperature dependent reduction of epitaxial Ce1-xPrxO2-δ (x = 0-1) thin films on Si(111): A combined TPD, XRD, XPS and Raman study

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Metadaten
Author: Marvin Hartwig ZöllnerORCiD, Gang Niu, Jin-Hao Jhang, Andreas Schäfer, Peter Zaumseil, Marcus Bäumer, Thomas Schröder
DOI:https://doi.org/10.1021/jp4082867
ISSN:1932-7455
Title of the source (English):Journal of Physical Chemistry : C
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2013
Volume/Year:117
Issue number:47
First Page:24851
Last Page:24857
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Halbleitermaterialien
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Halbleitermaterialien
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