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Ein flexibles Verfahren zur Testdaten-Kompaktierung und -Dekompaktierung für den Scan-Test

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Metadaten
Author: Uwe Gätzschmann, Heinrich Theodor Vierhaus
Document Type:Conference Proceeding
Language:German
Year of publication:2004
Quelle aus UBICO:Straube, Bernd (Red.): Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen : 16. ITG/GI/GMM Workshop, 29. Februar - 2. März 2004 in Dresden, Dresden : Fraunhofer IIS/EAS, 2004
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Technische Informatik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Technische Informatik
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