Ein flexibles Verfahren zur Testdaten-Kompaktierung und -Dekompaktierung für den Scan-Test
Author: | Uwe Gätzschmann, Heinrich Theodor Vierhaus |
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Document Type: | Conference Proceeding |
Language: | German |
Year of publication: | 2004 |
Quelle aus UBICO: | Straube, Bernd (Red.): Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen : 16. ITG/GI/GMM Workshop, 29. Februar - 2. März 2004 in Dresden, Dresden : Fraunhofer IIS/EAS, 2004 |
Faculty/Chair: | Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Technische Informatik |
Institution name at the time of publication: | Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Technische Informatik |