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Ein flexibler Ansatz für den Scan-Test von SoCs

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Metadaten
Author: Uwe Gätzschmann, Christian Galke, Heinrich Theodor Vierhaus, M. Kaibel
Document Type:Conference Proceeding
Language:German
Year of publication:2005
Quelle aus UBICO:17. ITG-GI-GMM-Workshop Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, Inssbruck, Febr./März 2005, S. 32-36
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Technische Informatik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Technische Informatik
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