Ein flexibler Ansatz für den Scan-Test von SoCs
Author: | Uwe Gätzschmann, Christian Galke, Heinrich Theodor Vierhaus, M. Kaibel |
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Document Type: | Conference Proceeding |
Language: | German |
Year of publication: | 2005 |
Quelle aus UBICO: | 17. ITG-GI-GMM-Workshop Test und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, Inssbruck, Febr./März 2005, S. 32-36 |
Faculty/Chair: | Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Technische Informatik |
Institution name at the time of publication: | Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Technische Informatik |