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Combining De-Stressing and Self Repair for Long-Term Dependable Systems

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Metadaten
Author: Tobias Koal, Heinrich Theodor Vierhaus
ISBN:978-1-4244-6613-9
Title of the source (English):2010 IEEE 13th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2010), Vienna, Austria, 14 - 16 April 2010
Publisher:IEEE
Place of publication:Piscataway, NJ
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2010
Tag:ICs; Selbstreparatur; Test; Zuverlässigkeit
First Page:99
Last Page:104
Comment:
IEEE Computer Society
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Technische Informatik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Technische Informatik
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