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The Effects of Voltage Scaling on Reliability and Power Consumption in Multiprocessor Systems

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Metadaten
Author: Mitko Veleski, Rolf Kraemer, Milos Krstic
URL:https://www.ihp-microelectronics.com/en/research/wireless-systems-and-applications/publications/publications-2018.html
Title of the source (English):Proc. 30. GI/GMM/ITG-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (TuZ 2018), 38 (2018)
Document Type:Conference publication peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2018
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Technische Informatik
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