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Sensitivity Analysis of S-Parameter Measurements Due to Calibration Standards Uncertainty

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Metadaten
Author: Friedrich LenkGND, Ralf Dörner, Andrej Rumiantsev
DOI:https://doi.org/10.1109/TMTT.2013.2279774
ISSN:0018-9480
Title of the source (English):IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2013
Volume/Year:61
Issue number:10
First Page:3800
Last Page:3807
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / Stiftungsprofessur Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
Fakultät 3 Maschinenbau, Elektro- und Energiesysteme / FG Nachrichtentechnik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Maschinenbau, Elektrotechnik und Wirtschaftsingenieurwesen (eBTU) / Ulrich-Rohde-Stiftungsprofessur für Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
Fakultät für Ingenieurwissenschaften und Informatik (eHL) / Prof. Nachrichtentechnik
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