• search hit 1 of 9
Back to Result List

Impact of in-situ TRL reference impedance determination on parameter extraction

  • This paper investigates the impact of possible parameter extraction errors caused by inaccurate definition of the calibration reference impedance of in-situ multiline TRL. Two calibration sets implemented on GaAs and Si/SiGe:C wafer processes were quantitatively analyzed. Obtained results demonstrated that for most practical cases, the desired 5%-level of confidence of extracted parameters of high-reflective devices can easily be achieved without additional efforts. Thus, implementation of the in-situ TRL into a characterization workflow of high-performance microwave devices can be significantly simplified.

Export metadata

Additional Services

Search Google Scholar
Metadaten
Author: Andrej Rumiantsev, Ralf Dörner, Friedrich LenkGND
URL:http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=6459080
ISBN:978-1-4673-2215-7
ISBN:978-2-87487-026-2
Title of the source (English):Microwave Conference (EuMC), 2012 42nd European, Amsterdam, Netherlands, 29 October - 1 November 2012
Publisher:IEEE
Place of publication:Piscataway, NJ
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2012
First Page:593
Last Page:596
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / Stiftungsprofessur Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
Fakultät 3 Maschinenbau, Elektro- und Energiesysteme / FG Nachrichtentechnik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Maschinenbau, Elektrotechnik und Wirtschaftsingenieurwesen (eBTU) / Ulrich-Rohde-Stiftungsprofessur für Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
Fakultät für Ingenieurwissenschaften und Informatik (eHL) / Prof. Nachrichtentechnik
Einverstanden ✔
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.