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Vorrichtung und Verfahren zur Beurteilung einer Güteklasse eines zu prüfenden Objekts

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Metadaten
Author: Dieter Hentschel, Constanze Tschöpe, Rüdiger Hoffmann, Matthias Eichner, Matthias WolffORCiD
Document Type:Patent
Language:German
Year of publication:2008
Patent number:EP 1 733 223 (J. 2008)
Patent number:10 2004 023 824 (J. 2006)
Patent number:AT 384261 (J. 2008)
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Kommunikationstechnik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Maschinenbau, Elektrotechnik und Wirtschaftsingenieurwesen (eBTU) / LS Kommunikationstechnik
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