Vorrichtung und Verfahren zur Beurteilung einer Güteklasse eines zu prüfenden Objekts
Author: | Dieter Hentschel, Constanze Tschöpe, Rüdiger Hoffmann, Matthias Eichner, Matthias WolffORCiD |
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Document Type: | Patent |
Language: | German |
Year of publication: | 2008 |
Patent number: | EP 1 733 223 (J. 2008) |
Patent number: | 10 2004 023 824 (J. 2006) |
Patent number: | AT 384261 (J. 2008) |
Faculty/Chair: | Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Kommunikationstechnik |
Institution name at the time of publication: | Fakultät für Maschinenbau, Elektrotechnik und Wirtschaftsingenieurwesen (eBTU) / LS Kommunikationstechnik |