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Charge Carrier Transport Along Grain Boundaries in Silicon

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Metadaten
Author: Martin Kittler, Manfred Reiche, Hans-Michael Krause
DOI:https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/SSP.205-206.293
Title of the source (English):Gettering and defect engineering in semiconductor technology XV, selected papers from the 15th Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology Conference, September 22 - 27, 2013, Oxford, UK
Publisher:Trans Tech Publ.
Place of publication:Durnten-Zurich [u.a.]
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2014
Contributing Corporation:IHP, MPI Halle
First Page:293
Last Page:298
Series ; volume number:Solid state phenomena ; 205/206
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Schaltkreisentwurf
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Schaltkreisentwurf
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