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EC Scalar Multiplication: Successful Simple Address-Bit SCA Attack against Atomic Patterns

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Metadaten
Author: Ievgen Kabin, Zoya Dyka, Dan Klann, Peter LangendörferGND
DOI:https://doi.org/10.1109/LATS53581.2021.9651877
ISBN:978-1-6654-2058-7
ISSN:2373-0862
Title of the source (English):IEEE 22nd Latin American Test Symposium (LATS)
Document Type:Conference publication peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2021
Number of pages:2
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Systeme
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