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Analysis of the Relaxed Contacted-Poly-Pitch Effect on the RF Performance of Strained-SiGe-Channel p-FETs in 22 nm FDSOI Technology

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Metadaten
Author: Quang Huy Le, Dang Khoa Huynh, Steffen Lehmann, Zhixing Zhao, Thomas Kämpfe, Matthias Rudolph
DOI:https://doi.org/10.23919/EuMIC50153.2022.9783713
ISBN:978-2-87487-064-4
ISBN:978-1-6654-4722-5
Title of the source (English):16th European Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC), 03-04 April 2022, London, United Kingdom
Publisher:IEEE
Document Type:Conference publication peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2022
First Page:22
Last Page:25
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / Stiftungsprofessur Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
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