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Depth Profiling of the Recombination Activity of Defects Measured by Temperature-dependent Cross-sectional EBIC

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Metadaten
Author: Oleg F. Vyvenko, O. Krüger, Martin Kittler
Document Type:Article
Language:English
Year of publication:2001
Quelle aus UBICO:Solid State Phenomena 78-79, 65
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Systeme
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Systeme
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