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Analysis of RF Stress Influence on Large-Signal Performance of 22nm FDSOI CMOS Transistors utilizing Waveform Measurement

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Metadaten
Author: Dang Khoa Huynh, Quang Huy Le, Steffen Lehmann, Zhixing Zhao, Germain Bossu, Wafa Arfaoui, Defu Wang, Thomas Kämpfe, Matthias Rudolph
DOI:https://doi.org/10.23919/EuMIC50153.2022.9783930
ISBN:978-2-87487-064-4
ISBN:978-1-6654-4722-5
Title of the source (English):16th European Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC), 03-04 April 2022, London, United Kingdom
Document Type:Conference publication peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2022
First Page:382
Last Page:385
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / Stiftungsprofessur Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
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