• search hit 29 of 39
Back to Result List

Stoichiometry-structure correlation of epitaxial Ce1-xPrxO2-δ (x = 0-1) thin films on Si(111)

Export metadata

Additional Services

Search Google Scholar
Metadaten
Author: Marvin Hartwig ZöllnerORCiD, Peter Zaumseil, Henrik Wilkens, Sebastian Gevers, Joachim Wollschläger, Marcus Bäumer, Ya-Hong Xie, Gang Niu, Thomas Schroeder
ISSN:0022-0248
Title of the source (English):Journal of Crystal Growth
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2012
Volume/Year:355
Issue number:1
First Page:159
Last Page:165
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Halbleitermaterialien
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Halbleitermaterialien
Einverstanden ✔
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.