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Misfit dislocation-free epitaxial growth of SiGe on compliant nanostructured Silicon

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Metadaten
Author: Peter Zaumseil, Markus Andreas Schubert, Yuji Yamamoto, Oliver Skibitzki, Giovanni CapelliniORCiD, Thomas Schröder
DOI:https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/SSP.242.402
ISSN:1662-9779
ISSN:0377-6883
Title of the source (English):Solid State Phenomena
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2016
Volume/Year:242
First Page:402
Last Page:407
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Halbleitermaterialien
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