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High temperature x-ray diffraction measurements on Ge/Si(001) heterostructures: a study on the residual tensile strain

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Metadaten
Author: Giovanni CapelliniORCiD, Monica De Seta, Peter Zaumseil, Grzegorz Kozłowski, Thomas Schroeder
DOI:https://doi.org/10.1063/1.3702443
ISSN:0021-8979
Title of the source (English):Journal of Applied Physics
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2012
Volume/Year:111
Issue number:7
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Halbleitermaterialien
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Halbleitermaterialien
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