• search hit 1 of 504
Back to Result List

A Spectro-Microscopic Approach for Thin Film Analysis Grain Boundaries in mc-Si and Sn/SnO2 Nano Particles

Export metadata

Additional Services

Search Google Scholar
Metadaten
Author: Patrick Hoffmann, Ricardo Pablo Mikalo, Alexandros D. Yfantis, David R. Batchelor, Günter Appel, Dieter SchmeißerORCiD
ISSN:1436-5073
ISSN:0026-3672
Title of the source (English):Microchimica Acta
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2001
Volume/Year:136
Issue number:3-4
First Page:109
Last Page:113
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Angewandte Physik und Halbleiterspektroskopie
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Angewandte Physik / Sensorik
Einverstanden ✔
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.