A Spectro-Microscopic Approach for Thin Film Analysis Grain Boundaries in mc-Si and Sn/SnO2 Nano Particles
Author: | Patrick Hoffmann, Ricardo Pablo Mikalo, Alexandros D. Yfantis, David R. Batchelor, Günter Appel, Dieter SchmeißerORCiD |
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ISSN: | 1436-5073 |
ISSN: | 0026-3672 |
Title of the source (English): | Microchimica Acta |
Document Type: | Scientific journal article peer-reviewed |
Language: | English |
Year of publication: | 2001 |
Volume/Year: | 136 |
Issue number: | 3-4 |
First Page: | 109 |
Last Page: | 113 |
Faculty/Chair: | Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Angewandte Physik und Halbleiterspektroskopie |
Institution name at the time of publication: | Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Angewandte Physik / Sensorik |