• search hit 144 of 147
Back to Result List

Selected Topics on Microwave Measurements, Noise in Devices and Circuits, and TransistorModeling. A Festschrift for Peter Heymann

Export metadata

Additional Services

Search Google Scholar
Metadaten
Author: Matthias Rudolph, Ralf Dörner
ISBN:3-86537-328-3
Document Type:Book (publisher)
Language:English
Year of publication:2005
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / Stiftungsprofessur Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Maschinenbau, Elektrotechnik und Wirtschaftsingenieurwesen (eBTU) / Ulrich-Rohde-Stiftungsprofessur für Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
Einverstanden ✔
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.