Selected Topics on Microwave Measurements, Noise in Devices and Circuits, and TransistorModeling. A Festschrift for Peter Heymann
Author: | Matthias Rudolph, Ralf Dörner |
---|---|
ISBN: | 3-86537-328-3 |
Document Type: | Book (publisher) |
Language: | English |
Year of publication: | 2005 |
Faculty/Chair: | Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / Stiftungsprofessur Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik |
Institution name at the time of publication: | Fakultät für Maschinenbau, Elektrotechnik und Wirtschaftsingenieurwesen (eBTU) / Ulrich-Rohde-Stiftungsprofessur für Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik |