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A Configurable Modular Test Processor and Scan Controller Architecture

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Metadaten
Author: Raik Frost, D. Rudolph, Christian Galke, René Kothe, Heinrich Theodor Vierhaus
ISBN:0-7695-2918-6
Title of the source (English):Proceedings, IOLTS 2007, 13th IEEE International On-Line Testing Symposium, Heraklion, Crete, Greece, 8 - 11 July 2007
Publisher:IEEE
Place of publication:Piscataway, NJ
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2007
Tag:ICs; Selbsttest; SoCs; Test
First Page:277
Last Page:284
Comment:
IEEE Computer Society
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Technische Informatik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Technische Informatik
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