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Femtosecond nonlinear optical characterisation of silicon wafers: the role of symmetry

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Metadaten
Author: Jürgen ReifGND, Thomas Schneider, Dirk Wolfframm, Reiner P. Schmid
URL:http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1369800100001669
DOI:https://doi.org/10.1016/S1369-8001(00)00166-9
ISSN:1369-8001
Title of the source (English):Materials Science in Semiconductor Processing
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2001
Volume/Year:4
Issue number:1-3
First Page:241
Last Page:243
Faculty/Chair:Fakultät 2 Umwelt und Naturwissenschaften / AG Physikalische Chemie II
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Physikalische Chemie und Analytik (ehemals)
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