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Residual stress in Si nanocrystals embedded in a SiO2 matrix

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Metadaten
Author: Tzanimir V. ArguirovGND, T. Mtchedlidze, Martin Kittler, R. Rölver, B. Berghoff, M. Först, B. Spangenberg
Document Type:Article
Language:English
Year of publication:2006
Quelle aus UBICO:Applied Physics Letters 89(2006) S. 05311, 0003-6951
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Experimentalphysik und funktionale Materialien
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Experimentalphysik / Materialwissenschaften
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