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Simulating Drain Lag of GaN HEMTs with physics-based ASM Model

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Metadaten
Author: Petros Beleniotis, Frank Schnieder, Matthias Rudolph
URL:https://ieeexplore.ieee.org/document/9337389
ISBN:978-2-87487-060-6
ISBN:978-1-7281-7040-4
Title of the source (English):2020 15th European Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC), 10-15 January 2021, Utrecht, Netherlands
Document Type:Conference publication peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2021
First Page:165
Last Page:168
Article number:INSPEC Accession Number: 20404882
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / Stiftungsprofessur Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
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