• search hit 5 of 8
Back to Result List

The role of gate leakage on surface-related current collapse in AlGaN/GaN HEMTs

Export metadata

Additional Services

Search Google Scholar
Metadaten
Author: Christos Zervos, Petros Beleniotis, Sascha Krause, Dan Ritter, Matthias Rudolph
DOI:https://doi.org/10.23919/EuMIC58042.2023.10289036
ISBN:978-2-87487-073-6
ISBN:979-8-3503-4833-0
Title of the source (English):18th European Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC), 18-19 September 2023, Berlin
Document Type:Conference publication peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2023
Volume/Year:2023
First Page:297
Last Page:300
Way of publication:Open Access
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / Stiftungsprofessur Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
Einverstanden ✔
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.