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A Universal Measurement System for Microwave Power Transistors

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Metadaten
Author: Matthias Rudolph, Ralf Dörner, Peter Heymann
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:1999
Quelle aus UBICO:GAAS 2000 Dig., 2000, S. 244-247
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / Stiftungsprofessur Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Maschinenbau, Elektrotechnik und Wirtschaftsingenieurwesen (eBTU) / Ulrich-Rohde-Stiftungsprofessur für Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
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