The Influence of Microwave Two-Port Noise on Residual Phase Noise in GaAs-HBTs
Author: | Matthias Rudolph, Peter Heymann |
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Document Type: | Conference Proceeding |
Language: | English |
Year of publication: | 2004 |
Quelle aus UBICO: | 34th European Microwave Conference Dig., Amsterdam, 2004, S. 945-948 |
Faculty/Chair: | Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / Stiftungsprofessur Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik |
Institution name at the time of publication: | Fakultät für Maschinenbau, Elektrotechnik und Wirtschaftsingenieurwesen (eBTU) / Ulrich-Rohde-Stiftungsprofessur für Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik |