• search hit 2 of 24
Back to Result List

The Influence of Microwave Two-Port Noise on Residual Phase Noise in GaAs-HBTs

Export metadata

Additional Services

Search Google Scholar
Metadaten
Author: Matthias Rudolph, Peter Heymann
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2004
Quelle aus UBICO:34th European Microwave Conference Dig., Amsterdam, 2004, S. 945-948
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / Stiftungsprofessur Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Maschinenbau, Elektrotechnik und Wirtschaftsingenieurwesen (eBTU) / Ulrich-Rohde-Stiftungsprofessur für Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
Einverstanden ✔
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.