Electronic Properties of the Interface Formed by Pr2o3 Growth on Si(001), Si(111)and SiC(0001) Surfaces
Author: | Dieter SchmeißerORCiD, Patrick Hoffmann, Guido Beuckert |
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Editor: | Ehrenfried ZschechORCiD, Caroline Whelan |
Document Type: | Part of a book (chapter) |
Language: | English |
Year of publication: | 2005 |
Quelle aus UBICO: | Zschech, Ehrenfried (Hrsg.): Materials for information technology : devices, interconnects and packaging. - Berlin [u.a.] : Springer, 2005, S. 449-460, 1-85233-941-1 (Engineering materials and processes ) |
Faculty/Chair: | Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Angewandte Physik und Halbleiterspektroskopie |
Institution name at the time of publication: | Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Angewandte Physik / Sensorik |