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Characterization of the Impairment and Recovery of GaN-HEMTs in Low-Noise Amplifiers under Input Overdrive

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Metadaten
Author: Sascha Krause, Petros Beleniotis, Olof Bengtsson, Matthias Rudolph, Wolfgang Heinrich
DOI:https://doi.org/10.1109/IMS19712.2021.9574839
ISBN:978-1-6654-0307-8
ISBN:978-1-6654-3141-5
ISSN:2576-7216
ISSN:0149-645X
Title of the source (English):2021 IEEE MTT-S International Microwave Symposium (IMS), 07-25 June 2021, Atlanta, GA, USA
Document Type:Conference publication peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2021
First Page:515
Last Page:518
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / Stiftungsprofessur Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
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