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Comparison of the SET Sensitivity of Standard Logic Gates Designed in 130 nm CMOS Technology

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Metadaten
Author: Marko AndjelkovicGND, Milos Krstic, Rolf Kraemer
DOI:https://doi.org/10.1109/MIEL.2017.8190106
ISBN:978-1-5386-2563-7
ISBN:978-1-5386-2561-3
Title of the source (English):30th International Conference on Microelectronics (MIEL), 9-11 Oct. 2017, Nis, Serbia
Publisher:IEEE
Place of publication:Piscataway, NJ
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2017
First Page:217
Last Page:220
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Systeme
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