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2D TCAD Simulation of Single Event Transients in 250 nm Bulk CMOS Technology

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Metadaten
Author: Marko AndjelkovicGND, Ulrich Jagdhold, Milos Krstic, Rolf Kraemer
ISBN:978-3-8007-4444-2
Title of the source (German):Zuverlässigkeit und Entwurf, 9. ITG/GMM/GI-Fachtagung vom 18.-20. September 2017 in Cottbus
Publisher:Berlin
Place of publication:VDE Verlag
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2017
First Page:90
Last Page:96
Series ; volume number:ITG-Fachbericht ; 274
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Systeme
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