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Intrinsic defects in TiO2 to explain resistive switching devices

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Metadaten
Author: Dieter SchmeißerORCiD, Matthias RichterGND, Massimo TallaridaORCiD
DOI:https://doi.org/10.1002/9783527667703.ch45
ISBN:978-3-527-41191-7
Title of the source (English):Frontiers in Electronic Materials: A Collection of Extended Abstracts of the Nature Conference Frontiers in Electronic Materials, June 17 to 20 2012, Aachen, Germany
Publisher:Wiley-VCH
Place of publication:Weinheim
Editor: Jörg Heber, Darrell Schlom, Yoshinori Tokura, Rainer Waser, Matthias Wuttig
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2012
Tag:Auger processes; X-ray absorption spectroscopy; XPS; resonant photoelectron spectroscopy
First Page:255
Last Page:256
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Angewandte Physik und Halbleiterspektroskopie
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Angewandte Physik / Sensorik
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