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Device and method for assessing a quality class of an object to be tested

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Metadaten
Author: Dieter Hentschel, Constanze Tschöpe, Rüdiger Hoffmann, Matthias Eichner, Matthias WolffORCiD
Document Type:Patent
Language:German
Year of publication:2011
Patent number:US 7873518 B2
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Kommunikationstechnik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Maschinenbau, Elektrotechnik und Wirtschaftsingenieurwesen (eBTU) / LS Kommunikationstechnik
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