Device and method for assessing a quality class of an object to be tested
Author: | Dieter Hentschel, Constanze Tschöpe, Rüdiger Hoffmann, Matthias Eichner, Matthias WolffORCiD |
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Document Type: | Patent |
Language: | German |
Year of publication: | 2011 |
Patent number: | US 7873518 B2 |
Faculty/Chair: | Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Kommunikationstechnik |
Institution name at the time of publication: | Fakultät für Maschinenbau, Elektrotechnik und Wirtschaftsingenieurwesen (eBTU) / LS Kommunikationstechnik |