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An Accurate Free Space Method for Material Characterization in W-Band Using Material Samples with Two Different Thicknesses

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Metadaten
Author: Isabella Lau, Martin Frank, Kilin Shi, Fabian Lurz, Armin Talai, Robert Weigel, Alexander Kölpin
DOI:https://doi.org/10.23919/EuMC.2018.8541437
Title of the source (English):Proceedings of the 48th European Microwave Conference, Madrid (Spain), 2018
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2018
First Page:202
Last Page:205
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Elektronische Systeme und Sensorik
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