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On the Feasibility of Combining On-Line-Test and Self Repair for Logic Circuits

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Metadaten
Author: Tobias Koal, Markus Ulbricht, Piet Engelke, Heinrich Theodor Vierhaus
ISBN:978-1-4673-6135-4
Title of the source (English):16th IEEE Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems (DDECS 2013), Karlovny Vary, April 2013
Publisher:IEEE Computer Society
Editor: Lukas Sekanina
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2013
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Technische Informatik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Technische Informatik
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