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Virtual TMR Schemes Combining Fault Tolerance and Self Repair

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Metadaten
Author: Tobias Koal, Markus Ulbricht, Heinrich Theodor Vierhaus
ISBN:978-0-7695-5074-9
Title of the source (English):16th IEEE International Euromicro Conference on Digital System Design, DSD 2013, 4-6 Sep 2013, Santander, Spain
Publisher:IEEE
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2013
First Page:235
Last Page:242
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Technische Informatik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Technische Informatik
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