MetadatenAuthor: | Markus Ulbricht, Mario Schölzel, Tobias Koal, Heinrich Theodor Vierhaus |
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URL: | http://www.computer.org |
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ISBN: | 978-1-4244-9755-3 |
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Title of the source (English): | IEEE 14th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2011), Cottbus, Germany, 13 - 15 April 2011 |
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Document Type: | Conference Proceeding |
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Language: | English |
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Year of publication: | 2011 |
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Tag: | Prozessoren; Test; Zuverlässigkeit |
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First Page: | 143 |
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Last Page: | 146 |
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Comment: | IEEE Computer Society |
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Faculty/Chair: | Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Technische Informatik |
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Institution name at the time of publication: | Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Technische Informatik |
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