• search hit 14 of 55
Back to Result List

A New Hiararchical Built-In SElf Test with On-Chip Diagnosis for VLIW Processors

  • Tagungsbeitrag 23. ITG-Tagung "Test und Zuverlässigeit von Schaltungen und Systemen", Passau, 2011

Export metadata

Additional Services

Search Google Scholar
Metadaten
Author: Markus Ulbricht, Mario Schölzel, Tobias Koal, Heinrich Theodor Vierhaus
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2011
Tag:Prozessoren; Test; Zuverlässigkeit
Comment:
BTU
Quelle aus UBICO:Polian, I. (Hrsg.): Proceedings / 23. ITG / GI /GMM Tagung "Test und Zuverlässigkeit, Passau, 2011
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Technische Informatik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Technische Informatik
Einverstanden ✔
Diese Webseite verwendet technisch erforderliche Session-Cookies. Durch die weitere Nutzung der Webseite stimmen Sie diesem zu. Unsere Datenschutzerklärung finden Sie hier.