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A New Hierarchical Built-In Test with On-Chip Diagnosis for VLIW Processors

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Metadaten
Author: Markus Ulbricht, Mario Schölzel, Tobias Koal, Heinrich Theodor Vierhaus
URL:http://www.computer.org
ISBN:978-1-4244-9755-3
Title of the source (English):IEEE 14th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2011), Cottbus, Germany, 13 - 15 April 2011
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2011
Tag:Prozessoren; Test; Zuverlässigkeit
First Page:143
Last Page:146
Comment:
IEEE Computer Society
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Technische Informatik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Technische Informatik
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