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Reduced Triple Modular Redundancy for Built-in Self Repair in VLIW Processors

  • Tagungsbeitrag IEEE SPA 2007, Poznan

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Metadaten
Author: Mario Schölzel
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2007
Tag:Prozessoren; Selbstreparatur; Zuverlässigkeit
Comment:
BTU
Quelle aus UBICO:Dabrowski, A. (Hrsg.): Proc. IEEE SPA 2007, Poznan, 2007
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Technische Informatik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Technische Informatik
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