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HW / SW Co-Detection of Transient and Permanent Faults with Fast Recovery in Statically Scheduled Data Paths

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Metadaten
Author: Mario Schölzel
ISBN:978-1-4244-7054-9
Title of the source (English):2010 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition, DATE 2010, Dresden, Germany, 8 - 12 March 2010
Publisher:IEEE
Place of publication:Piscataway, NJ
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2010
First Page:723
Last Page:728
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Technische Informatik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Technische Informatik
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