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Reliable GaN HEMT Modeling Based on Chalmers Model and Pulsed S-Parameter Measurements

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Metadaten
Author: Peng Luo, Olof Bengtsson, Matthias Rudolph
DOI:https://doi.org/10.1109/GEMIC.2016.7461650
ISBN:978-3-9812668-7-0
Title of the source (English):2016 German Microwave Conference, March 14-16, 2016 Bochum, Germany
Publisher:IEEE
Place of publication:Piscataway, NJ
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2016
First Page:441
Last Page:444
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / Stiftungsprofessur Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
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