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A Resonant Substrate Integrated Waveguide Measurement System for True Relative Permittivity Extraction of PCB Materials up to 90 GHz

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Author: Isabella Lau, Fabian Michler, Armin Talai, Robert Weigel, Alexander Kölpin
DOI:https://doi.org/10.1109/IMWS-AMP.2018.8457133
ISBN:978-1-5386-5569-6
Title of the source (English):2018 IEEE MTT-S International Microwave Workshop Series on Advanced Materials and Processes for RF and THz Applications (IMWS-AMP) : 16-18 July 2018
Publisher:IEEE
Place of publication:Piscataway, NJ
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2018
Number of pages:3
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Elektronische Systeme und Sensorik
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