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High Precision Interferometric Radar for Sheet Thickness Monitoring

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Author: Sebastian Mann, Christoph Will, Torsten Reißland, Fabian Lurz, Stefan Lindner, Sarah Linz, Robert Weigel, Alexander Kölpin
DOI:https://doi.org/10.1109/TMTT.2018.2825328
ISSN:0018-9480
ISSN:1557-9670
Title of the source (English):IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2018
Volume/Year:66
Issue number:6
First Page:3153
Last Page:3166
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Elektronische Systeme und Sensorik
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