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An experimental extracted model for latchup analysis in CMOS process

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Metadaten
Author: Dirk Killat, Ye Li, Xiaohan Gong, Weiwei Xu, Zhiliang Hong
ISBN:978-1-4244-3868-6
Title of the source (English):IEEE 8th International Conference on ASIC, 2009, ASICON '09, 20 - 23 Oct. 2009, Changsha, China, proceedings
Publisher:IEEE
Place of publication:Piscataway, NJ
Document Type:Conference Proceeding
Language:English
Year of publication:2009
First Page:1035
Last Page:1038
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Mikroelektronik
Institution name at the time of publication:Fakultät für Maschinenbau, Elektrotechnik und Wirtschaftsingenieurwesen (eBTU) / LS Mikroelektronik
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