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DeepTest: How Machine Learning Can Improve the Test of Embedded Systems 

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Metadaten
Author: Jens Bielefeldt, Kai-Uwe Basener, Siddique R. Khan, Mozhdeh Massah, Hans-Werner Wiesbrock, Stefan Scharoba, Michael Hübner
DOI:https://doi.org/10.1109/meco52532.2021.9460182
ISBN:978-1-6654-3912-1
ISBN:978-1-6654-2989-4
Title of the source (English):10th Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO), 7-10 June 2021
Publisher:IEEE
Place of publication:Piscataway, NJ
Document Type:Conference publication peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2021
First Page:1
Last Page:6
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Technische Informatik
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