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Impact of Off-State Stress on SiGe-channel p-FETs in 22nm FDSOI under Large-Signal Operation

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Metadaten
Author: Dang Khoa Huynh, Quang Huy Le, Steffen Lehmann, Zhixing Zhao, Germain Bossu, Wafa Arfaoui, Thomas Kämpfe, Matthias Rudolph
DOI:https://doi.org/10.23919/EuMIC58042.2023.10288886
ISBN:978-2-87487-073-6
ISBN:979-8-3503-4833-0
Title of the source (English):18th European Microwave Integrated Circuits Conference (EuMIC), 18-19 September 2023, Berlin
Document Type:Conference publication peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2023
First Page:173
Last Page:176
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / Stiftungsprofessur Hochfrequenz- und Mikrowellentechnik
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