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Grain boundary light beam induced current: A characterization of bonded silicon wafers and polycrystalline silicon thin films for diffusion length extraction

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Metadaten
Author: Orman Gref, Ana-Maria Teodoreanu, Rainer Leihkauf, Heiko Lohrke, Martin Kittler, Daniel AmkreutzGND, Christian Boit, Felice Friedrich
DOI:https://doi.org/10.1002/pssa.201532987
ISSN:1862-6319
Title of the source (English):Physica Status Solid A
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2016
Contributing Corporation:Helmholtz-Zentrum Berlin für Materialien und Energie, TU Berlin Department of Semiconductor Devices
Volume/Year:213
Issue number:7
First Page:1728
Last Page:1737
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Schaltkreisentwurf
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