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Site- and Symmetry-resolved Resonant X-ray Emission Study of a Highly-ordered PTCDA Thin Film

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Author: Lothar Weinhardt, Oliver Fuchs, André Fischer, Markus Weigand, Frank Meyer, Andreas Benkert, Monika Blum, Marcus Bär, Sujitra Pookpanratana, Jonathan D. Denlinger, Clemens Heske, Eberhard Umbach
DOI:https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.5b12422
ISSN:1932-7447
ISSN:1932-7455
Title of the source (English):The Journal of Physical Chemistry: C
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2016
Volume/Year:120
Issue number:16
First Page:8607
Last Page:8615
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / JP Photovoltaik
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