MetadatenAuthor: | Krzysztof Kolanek, Peter Hermann, Piotr T. Dudek, Teodor Gotszalk, Dmytro Chumakov, Martin Weisheit, Michael Hecker, Ehrenfried ZschechORCiD |
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ISSN: | 0040-6090 |
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Title of the source (English): | Thin Solid Films |
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Document Type: | Scientific journal article peer-reviewed |
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Language: | English |
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Year of publication: | 2010 |
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Tag: | measurements; microscope; oxidation; thin films |
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Volume/Year: | 518 |
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Issue number: | 12 |
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First Page: | 3267 |
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Last Page: | 3272 |
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Faculty/Chair: | Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Angewandte Physik und Halbleiterspektroskopie |
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Institution name at the time of publication: | Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Angewandte Physik / Sensorik |
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