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Characterization of oxidic and organic materials with synchrotron radiation based XPS and XAS

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Metadaten
Author: Dieter SchmeißerORCiD, Massimo TallaridaORCiD, Karsten HenkelORCiDGND, Klaus Müller, Dipankar MandalORCiDGND, Dmytro Chumakov, Ehrenfried ZschechORCiD
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2009
Tag:XAS; XPS; materials; organic; oxidic; synchrotron radiation
Quelle aus UBICO:Materials Science Poland 27(2009)1, S. 141-157
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Angewandte Physik und Halbleiterspektroskopie
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Angewandte Physik / Sensorik
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