Spectroscopic and capacitance-voltage characterization of thin aminopropylmethoxysilane films doped with copper phthalocyanine, tris(dimethylvinylsilyloxy)-POSS and fullerene cages
Author: | Jolanta Klocek, Karsten HenkelORCiDGND, Krzysztof Kolanek, Ehrenfried ZschechORCiD, Dieter SchmeißerORCiD |
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ISSN: | 0169-4332 |
Title of the source (English): | Applied surface science |
Document Type: | Scientific journal article peer-reviewed |
Language: | English |
Year of publication: | 2012 |
Volume/Year: | 258 |
Issue number: | 10 |
First Page: | 4213 |
Last Page: | 4221 |
Faculty/Chair: | Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Angewandte Physik und Halbleiterspektroskopie |
Institution name at the time of publication: | Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Angewandte Physik / Sensorik |