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Spectroscopic and capacitance-voltage characterization of thin aminopropylmethoxysilane films doped with copper phthalocyanine, tris(dimethylvinylsilyloxy)-POSS and fullerene cages

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Metadaten
Author: Jolanta Klocek, Karsten HenkelORCiDGND, Krzysztof Kolanek, Ehrenfried ZschechORCiD, Dieter SchmeißerORCiD
ISSN:0169-4332
Title of the source (English):Applied surface science
Document Type:Scientific journal article peer-reviewed
Language:English
Year of publication:2012
Volume/Year:258
Issue number:10
First Page:4213
Last Page:4221
Faculty/Chair:Fakultät 1 MINT - Mathematik, Informatik, Physik, Elektro- und Informationstechnik / FG Angewandte Physik und Halbleiterspektroskopie
Institution name at the time of publication:Fakultät für Mathematik, Naturwissenschaften und Informatik (eBTU) / LS Angewandte Physik / Sensorik
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